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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子半導體SiC測厚儀OPTM-F2，OTSUKA大塚半導體行業Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子顯微分光膜厚儀OPTM-F1，OTSUKA大塚半導體行業Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子自動XY型OPTM-A2顯微分光膜厚儀，OTSUKA大塚半導體行業Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子自動XY型OPTM-A1顯微分光膜厚儀，OTSUKA大塚半導體行業Si、氧化膜、氮化膜、SiC、SIO等檢測
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚電子晶圓測厚系統 GS-300實現嵌入晶圓中的布線圖案的圖案對齊 GS-300滿足半導體工藝的高通量需求 GS-300支持凹口對齊功能
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司代理OTSUKA大塚電子SF-3晶圓非破壞性測厚儀SF-3以超高速實時和高精度測量晶圓和樹脂的非接觸研磨和拋光過程。SF-3/200 SF-3/300 SF-3/800 SF-3/1300
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OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀代理 FE-5000S塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司 FE-5000S除了可實現高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜外， FE-5000S還可以通過實施自動可變測量角度機制來處理所有類型的薄膜。 除了傳統的旋轉分析儀方法外，通過安裝自動延遲板分離機構提高了測量精度。
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OTSUKA大塚電子橢圓偏振光譜儀代理 FE-5000塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司 FE-5000除了可實現高精度薄膜分析的橢圓偏振光譜外， FE-5000還可以通過實施自動可變測量角度機制來處理所有類型的薄膜。 除了傳統的旋轉分析儀方法外，通過安裝自動延遲板分離機構提高了測量精度。
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-6800中國代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 除了顯微光譜、光源發光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚電子MCPD-9800中國代理多通道光譜儀這是一款多通道多通道光譜儀，適用于紫外到近紅外范圍。 除了顯微光譜、光源發光、透射和反射測量外，它還可以與軟件結合使用，以評估物體的顏色和薄膜厚度。
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司江蘇代理OTSUKA大塚 顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 測量各種薄膜，晶圓，光學材料等涂層薄膜的厚度，以及多層薄膜的厚度，而不會具有破壞性和非接觸性。
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塔瑪薩崎電子（蘇州）有限公司OTSUKA大塚 Zeta電位，粒徑，分子量測量系統 ELSZneo OTSUKA大塚橢圓光譜儀 FE-5000/5000S
