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MITAKA三鷹非接觸式全方位輪廓測量MLP-3SP擅長的領域是傳統坐標測量機、投影儀和激光顯微鏡無法實現的。 點自動對焦探頭和每個軸的控制，包括旋轉，解決了困擾操作員的問題。
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小型激光探針單元MP系列 非接觸式測量在任何環境中進行非接觸式精密測量 通過將其集成到加工機或在線設備中，可以在機器上進行形狀測量，這通常是在單獨的過程中進行的，有助于提高超精密加工的精度和質量控制的合理化。
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MITAKA三鷹光器NH-3MAs非接觸式三坐標測量機微透鏡陣列（MLA）形狀光學表征設備它配備了NH系列的所有基本形狀測量功能，可以測量透鏡和模具的橫截面形狀，并用專用軟件集體測量曲率和中心坐標。
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MITAKA三鷹光器 3D面輪廓粗糙度測定NH-4Ns可NH系列實現了高精度和易用性， 解決了傳統的測量問題。?可以在不損壞測量對象的情況下進行測量?擅長測量陡坡和大不規則性?直接測量透明物體，例如鏡面和透鏡
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MITAKA三鷹光器 3D面輪廓粗糙度測定NH-3Ns可NH系列實現了高精度和易用性， 解決了傳統的測量問題。?可以在不損壞測量對象的情況下進行測量?擅長測量陡坡和大不規則性?直接測量透明物體，例如鏡面和透鏡
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MITAKA三鷹光器 3D面輪廓粗糙度測定NH-3MA可NH系列實現了高精度和易用性， 解決了傳統的測量問題。?可以在不損壞測量對象的情況下進行測量?擅長測量陡坡和大不規則性?直接測量透明物體，例如鏡面和透鏡
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MITAKA三鷹光器 3D面輪廓粗糙度測定NH-5Ns可NH系列實現了高精度和易用性， 解決了傳統的測量問題。?可以在不損壞測量對象的情況下進行測量?擅長測量陡坡和大不規則性?直接測量透明物體，例如鏡面和透鏡
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MITAKA三鷹光器 3D面輪廓粗糙度測定NH-3SPS可NH系列實現了高精度和易用性， 解決了傳統的測量問題。?可以在不損壞測量對象的情況下進行測量?擅長測量陡坡和大不規則性?直接測量透明物體，例如鏡面和透鏡
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MITAKA三鷹光器 3D面輪廓粗糙度測定PF-60可實現50倍折射率測量速度的掃描自動AF功能和高精度自動XY載物臺，以亞微米級測量精度實現數十毫米寬范圍的高速測量。 它非常適合測量橫截面曲線無法檢測到的精密加工零件的翹曲、成型品中的形狀缺陷以及摩擦學中磨損和劃痕的定量評估。
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MITAKA三鷹光器株式會社成立于1966年，致力于生產、制造高精度光電技術相關產品。總公司坐落于東京都三鷹市，于日本有4處分公司。 自昭和41年5月成立三鷹工業株式會社以來，我們一直以創造和信任為主題。 在空間觀測儀器的設計和制造方面，我們利用自成立以來培養的技術能力，在高精度天文望遠鏡、光學測量設備和醫療設備等各個領域得到了客戶的高度評價。 未來，所需的產品將日新月異，但我們將始終響應任何客戶需求，不斷掌握客戶所需產品的變化，并努力開發更好的產品? 公司主要產品包括：醫療設備、天文觀測系統、航天開發設備、工業測量儀器、新能源。 日本MITAKA三鷹光器?非接觸式3D輪廓儀， 日本MITAKA三鷹光器?粗糙度儀， 在任何環境中進行非接觸式精密測量 通過將其集成到加工機或在線設備中，可以在機器上進行形狀測量，這通常是在單獨的過程中進行的，有助于提高超精密加工的精度和質量控制
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MITAKA三鷹光器微透鏡陣列（MLA） 形狀光學表征設備 它配備了NH系列的所有基本形狀測量功能，可以測量透鏡和模具的橫截面形狀，并用專用軟件集體測量曲率和中心坐標。
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MITAKA三鷹光器 NH-4Ns非接觸式坐標測量裝置NH-3SP系列實現了高精度和易用性， 解決了傳統的測量問題。?可以在不損壞測量對象 的情況下進行測量?擅長測量陡坡和大不規則性?直接 測量透明物體，例如鏡面和透鏡
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MITAKA三鷹光器非接觸式坐標測量裝置NH-3SP系列實現了高精度和易用性， 解決了傳統的測量問題。?可以在不損壞測量對象 的情況下進行測量?擅長測量陡坡和大不規則性?直接 測量透明物體，例如鏡面和透鏡
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MITAKA三鷹光器MITAKA三鷹非接觸式坐標測量裝置NH-3SP系列實現了高精度和易用性， 解決了傳統的測量問題。?可以在不損壞測量對象 的情況下進行測量?擅長測量陡坡和大不規則性?直接 測量透明物體，例如鏡面和透鏡
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MITAKA三鷹光器NH-5NsMITAKA三鷹非接觸式坐標測量裝置NH-3SP系列實現了高精度和易用性，解決了傳統的測量問題。?可以在不損壞測量對象的情況下進行測量?擅長測量陡坡和大不規則性?直接測量透明物體，例如鏡面和透鏡
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MITAKA三鷹光器MITAKA三鷹非接觸式坐標測量裝置NH-3SP系列實現了高精度和易用性， 解決了傳統的測量問題。?可以在不損壞測量對象 的情況下進行測量?擅長測量陡坡和大不規則性?直接 測量透明物體，例如鏡面和透鏡
