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代理日本品牌：OTSUKA大塚電子（薄膜測厚儀、相位差膜設(shè)備等）、USHIO牛尾點光源、CCS檢查光源、Aitec艾泰克、REVOX萊寶克斯、ONOSOKKI小野測器、YAMATO雅馬拓、KOSAKA小坂臺階儀、SEN特殊光源、TSUBOSAKA壺坂電機、NEWKON新光、TOKISANGYO東機產(chǎn)業(yè)、tokyokeiso東京計裝、leimac雷馬克、MIKASA米卡薩勻膠機、COSMO科斯莫、SAKURAI櫻井無塵紙、TOE東京光電子、EYE巖崎UV燈管、SANKO山高、HOYA豪雅光源、日本IMV愛睦威地震儀、HOKUYO北陽電機、SAKAGUCHI坂口電熱、ThreeBond三鍵膠水等.
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株式會社小坂研究所（KOSAKA）是于 1950 年創(chuàng)立的公司，也是日本一家發(fā)表光學(xué)杠桿表面粗糙度計，是一家具有悠久歷史與技術(shù)背景的業(yè)廠商,主要有測定/自動/流體三大部門。其中測定部門為具代表性單位且在日本精密測定業(yè)占有一席無法被取代的地位 ET4000M???合理、高性能的通用微形測量機KOSAKA小坂高精度自動測量樣品臺階儀ET8000國內(nèi)總代
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日本**代理KOSAKA小坂ET4000M臺階儀這款全自動微形狀測量機具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000A臺階儀國內(nèi)總代硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。 ET4000A??多功能全自動微形測量機 ET4000L?可處理大尺寸的全自動微形測量機 ET4000M???合理、高性能的通用微形測量機
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代理KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000L臺階儀總代這款全自動微形狀測量機具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000A臺階儀國內(nèi)總代硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。 ET4000A??多功能全自動微形測量機 ET4000L?可處理大尺寸的全自動微形測量機 ET4000M???合理、高性能的通用微形測量機
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這款全自動微形狀測量機具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、KOSAKA小坂探針式輪廓儀ET4000A臺階儀國內(nèi)總代硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。 ET4000A??多功能全自動微形測量機 ET4000L?可處理大尺寸的全自動微形測量機 ET4000M???合理、高性能的通用微形測量機
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小坂臺階儀膜厚儀探針接觸式ET200A-3D國內(nèi)總代 它是2D表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇，可實現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測量力小的軟樣品表面。 ET200A：表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇 ET200A-D：配備電動Y軸單元 ET200A-3D：D 表面粗糙度分析和階躍差測量的理想選擇
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Kosaka小坂ET200A粗糙度三維6寸臺階儀總代 它是2D表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇，可實現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測量力小的軟樣品表面。 ET200A：表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇 ET200A-D：配備電動Y軸單元 ET200A-3D：D 表面粗糙度分析和階躍差測量的理想選擇
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Kosaka小坂ET200A粗糙度三維6寸臺階儀總代 它是2D表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇，可實現(xiàn)高精度，高分辨率和出色的穩(wěn)定性，并且還支持測量力小的軟樣品表面。 ET200A：表面粗糙度分析和階梯測量的理想選擇 ET200A-D：配備電動Y軸單元 ET200A-3D：D 表面粗糙度分析和階躍差測量的理想選擇
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華東總代KOSAKA小坂高精度測量樣品尺寸臺階儀ET8000 可以高精度自動測量樣品尺寸高達(dá) 2200×2600 mm 的大型工件。 還有一個加載/卸載樣品的選項。
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華東總代 KOSAKA臺階儀ET-4000M薄膜測厚儀這款全自動微形狀測量機具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。
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華東總代 KOSAKA臺階儀ET4000L薄膜測厚儀這款全自動微形狀測量機具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。
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華東總代 KOSAKA臺階儀ET4000薄膜測厚儀這款全自動微形狀測量機具有出色的精度、穩(wěn)定性和功能性，是測量 FPD 基板、晶圓、硬盤等的精細(xì)形狀、階差、粗糙度等的理想選擇。 此外，您可以從多種型號中進(jìn)行選擇，以滿足您的應(yīng)用需求。
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國內(nèi)總代日本小坂KOSAKA臺階儀微細(xì)形狀測定機ET200A-3D 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計，可直接觀察到探針工作時的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測試區(qū)域。
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國內(nèi)總代日本小坂KOSAKA臺階儀微細(xì)形狀測定機ET200A-D 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計，可直接觀察到探針工作時的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測試區(qū)域。
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國內(nèi)總代日本小坂KOSAKA臺階儀微細(xì)形狀測定機ET200AET200A 能**可靠地測量出表面臺階形貌、粗糙度、波紋度、磨 損度、薄膜應(yīng)力等多種表面形貌技術(shù)參數(shù)。 ET200A 配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD 原位采集設(shè)計，可直接觀察到探針工作時的狀態(tài)，更方便準(zhǔn)確的定位測試區(qū)域。
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江蘇總代FP3030 KOSAKA小坂臺階儀細(xì)孔測量機*小測量孔直徑 φ10μm~/ *大測量長度300×300×300微米/測量分辨率10納米/測量力 0.1μN以下/移動軸 （X，Y，Z）305×370×52毫米/*大樣本量φ300毫米 T=50毫米
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華東總代KOSAKA小坂臺階儀FP-Labo 細(xì)孔測量機*小測量孔直徑φ10μm~*大測量長度300×300×300微米/測量分辨率10納米/測量力 0.1μN以下/移動軸 （X，Y，Z）50×50×52毫米/*大樣本φ160毫米 T=50毫米
